當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > > 可程式恒溫恒濕試驗箱 > AP-HX-408C3溫度速變試驗箱
簡要描述:溫度速變試驗箱可以進行多種類型的測試,例如溫度循環(huán)測試、熱沖擊測試和溫度應(yīng)力測試。在溫度循環(huán)測試中,試驗箱會在一定的時間范圍內(nèi)循環(huán)改變溫度,以模擬物體在不同溫度下的工作環(huán)境。熱沖擊測試則通過迅速改變試驗環(huán)境的溫度,評估物體在溫度突變情況下的耐受性。
詳細介紹
儀器種類 | 臺式 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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價格區(qū)間 | 1萬-5萬 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材,電子,交通,印刷包裝,紡織皮革 |
內(nèi)尺寸 | 50*40*50CM |
溫度速變試驗箱用途:主要為電子零件、工業(yè)材料、成品研發(fā)、生產(chǎn)、檢驗各環(huán)節(jié)的試驗提供復雜高低溫交變等試驗環(huán)境和試驗條件,適用于電子電器、通訊、化工、五金、橡膠、玩具、科研等各行業(yè)。
一、產(chǎn)品名稱可程式恒溫恒濕試驗箱(標準型)
二、產(chǎn)品型號AP-HX-408C3
三、容積、尺寸和重量
1.內(nèi)容積 408L
2.內(nèi)箱尺寸600*850*800mm (W* H *D)
3. 外型尺寸(約)1100*1950*1300mm (W* H *D)
4.重 量約300㎏
四、性能指標
1.測試環(huán)境條件:機器周圍環(huán)境溫度維持在+25~+30℃之間,相對濕度:≤85%;氣壓:86kPa~106kPa正常大氣壓力。2.滿足標準·GB/T10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件
·GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
·GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件
·GB/T2423.1-2008低溫試驗Aa , Ab
·GB/TT2423.2-2008試驗B:高溫試驗方法.
·GB/T2423.3-2006(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗 Ca
·MIL-STD810D方法502.2
·GB/T2423.4-2008(MIL-STD810)方法507.2程式3
·GJB150.9-1986用設(shè)備環(huán)境試驗方法-濕熱試驗
·GB2423.34-2012、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗
3.溫度范圍:-40℃~+150 ℃ (風冷式)
4.濕度范圍:20 %~98 % RH(分布范圍如下圖)
5.降溫速率RT~-40℃/65min(空載)約1℃/min
6.升溫速率RT~+150℃/40min(空載)約3℃/min
7.溫度穩(wěn)定度±0.5℃
8.溫度解析精度0.01℃
9.濕度控制精度±2%R.H
10.濕度解析精度0.1%R.H
11.溫度均勻度 ±2.0℃
12.濕度均勻度 ≤±3%R.H(+2、-3%RH)
13.工作噪音A聲級≤75dB(A) (在環(huán)境溫度25℃,回聲少的隔音室內(nèi)測得;采用A計權(quán),測試8個點的平均值;各測試點水平離噪音源1米、高度離地面1米)。
五、溫度速變試驗箱控制儀表7英寸超大觸摸AP-900智能可程式溫濕度控制器:120組程式,每組程式100段,可以設(shè)置程式全部循環(huán),部分循環(huán),程式連接,設(shè)定程式終了動作,設(shè)定待機動作??蒛SB連接U盤實時記錄試驗數(shù)據(jù),導出試驗歷史數(shù)據(jù),導入圖片。標配RS232通信界面,通信速度最大115200bps,(可選配RS485,通訊距離最長1.2km,最多可以連接99臺)。
六、低溫控制方式
制冷循環(huán)均采用逆卡諾循環(huán),該循環(huán)由兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成,其過程如下:制冷劑經(jīng)壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高,之后制冷劑經(jīng)冷凝器等溫地和四周介質(zhì)進行熱交換將熱量傳給四周介質(zhì)。后制冷劑經(jīng)截流閥絕熱膨脹做功,這時制冷劑溫度降低。制冷劑通過蒸發(fā)器等溫地從溫度較高的物體吸熱,使被冷卻物體溫度降低。此循環(huán)周而復始從而達到降溫之目的制冷系統(tǒng)的設(shè)計應(yīng)用能量調(diào)節(jié)技術(shù),一種行之有效的處理方式既能保證在制冷機組正常運行的情況下又能對制冷系統(tǒng)的能耗及制冷量進行有效的調(diào)節(jié),使制冷系統(tǒng)的運行費用下降到較為經(jīng)濟的狀態(tài)。
是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域備的測試設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
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